Biblioteca Técnica

Como ler o nônio do paquímetro (0,05 mm) e o tambor do micrômetro (0,01 mm), com erros comuns de medição.

Estrutura interna, modos (monoestável, astável, bistável), variações bipolares e CMOS, e aplicações práticas do 555. Diagnóstico completo e dicas de projeto do clássico de Newton C. Braga.

Curadoria do acervo de Newton C. Braga, referência brasileira em eletrônica. Conceitos essenciais, metodologia de estudo e como aproveitar o material na prática.

Mecatrônica é a integração sinérgica de mecânica, eletrônica, controle e computação. Este artigo aprofunda origem, os quatro pilares, níveis de atuação e por que ela define a indústria moderna.

Os três parâmetros fundamentais de qualquer operação de usinagem e como eles se conectam: Vc → RPM → avanço → tempo.

Rosca métrica ISO, rosca Whitworth, rosca ACME e trapezoidal: como calcular passo, profundidade do filete e diâmetro de furo para macho.

Por que medir é mais do que ler um instrumento: a cadeia de rastreabilidade, a calibração periódica e a diferença entre precisão e exatidão.

Diferença entre os sistemas de projeção ISO (1º e 3º diedro), identificação no desenho e quando cada um é usado.

Regras de cotação no desenho técnico: cotas de tamanho, posição, cotas de referência, e erros de cotação que geram ambiguidade.

Ligas (SnPb e lead-free), fluxos, técnicas de soldagem THT e SMD, dessoldagem com malha, pump e ar quente. Diagnóstico de solda fria, falhas comuns e EPI.

Sinais contínuos, amplificadores operacionais, condicionamento de sinais e a base de toda a aquisição de dados. Um guia aprofundado da eletrônica analógica para mecatrônicos.

Como escolher velocidade de corte, avanço e profundidade no torneamento, e como a geometria da pastilha afeta o acabamento e a vida da ferramenta.

Fresamento frontal, periférico e de cavidade; fres concordante vs discordante; e como calcular RPM e avanço no fresamento.

Como combinar fontes de incerteza e calcular a incerteza expandida (k=2) segundo o Guia para a Expressão de Incerteza (GUM).

Sistema de tolerâncias ISO (IT), campos de tolerância (H, g, etc.) e os três tipos de ajuste: folga, interferência e transição.

Topologias de fontes chaveadas (Buck, Boost, Buck-Boost, Ćuk, SEPIC, Flyback, Forward, pontes), modos CCM/DCM, controle em modo de tensão/corrente e ressonante. Diagnóstico completo de bancada e segurança em fontes off-line.

Perdas de condução (R_DS(on)), comutação (t_r/t_f), gate (Q_g) e C_oss em MOSFETs de potência. Efeito Miller, body diodo, indutância parasita e ringing. Diagnóstico com multímetro e osciloscópio.

Comparativo entre MOSFET e IGBT: estrutura, perdas (R_DS(on) vs V_CE(sat)), faixas de tensão/frequência, tail current e regra prática de escolha. Materiais SiC e GaN. Diagnóstico de bancada.

Modos de medição do DMM (tensão, corrente, resistência), true RMS vs average responding, burden voltage, crest factor e especificações de precisão. Técnicas de bancada, erros comuns e categorias de segurança (CAT).

Controles do osciloscópio (time/div, volts/div, trigger, acoplamento), medidas automáticas, modos de aquisição, matemática e FFT, largura de banda e sample rate. Técnicas de medição, erros comuns e segurança em medições de potência.

Ponte RLC e analisador de impedância: por que o multímetro não basta, modos série/paralelo, D (dissipação), Q, ESR, medição de 4 fios (Kelvin), varredura de frequência e efeitos de tensão/temperatura. Diagnóstico de componentes.

Fontes e mecanismos de EMI, técnicas de mitigação (aterramento, blindagem, layout de PCB, filtros, snubbers) e normas (CISPR, IEC 61000, FCC). Diagnóstico com osciloscópio e spectrum analyzer.

As cinco linguagens da IEC 61131-3 (LD, FBD, ST, IL, SFC): sintaxe, vantagens, desvantagens e quando usar cada. Boas práticas, diagnóstico de programa de CLP e segurança.

Fotodiodo, fototransistor, fotodarlington, LDR, APD e PMT: princípios, resposta espectral, velocidade e circuitos de aplicação (TIA, comparador). Diagnóstico de bancada e segurança óptica.

Estrutura, formas de implementação, windup integral e métodos de sintonia (Ziegler-Nichols, Cohen-Coon, lambda) do controlador PID. Diagnóstico de laços e cascata na prática.

Termopares (J/K/T/N/S), RTD (PT100/PT1000 em 2/3/4 fios), termistores NTC/PTC e pirômetros IR. Princípios, montagens, curvas e diagnóstico completo de bancada.

Controle escalar (V/f), vetorial (FOC) e DTC em inversores de frequência. Modulação PWM, regeneração, dV/dt e auto-tuning. Diagnóstico completo de falhas e medição com osciloscópio.

NMEA 0183 e NMEA 2000, ECDIS, AIS, radar e piloto automático: protocolos e redundância em automação marítima. Diagnóstico de barramento CAN e diagnóstico de sentenças seriais.

Cinemática e dinâmica de acionamentos: inércia refletida, torque de aceleração, seleção de motoredutor e regeneração. Cálculo passo a passo e diagnóstico de bancada.

BACnet, Modbus TCP, LoRaWAN e NB-IoT em edifícios comerciais: eficiência energética, medição por circuito, demanda e integração com segurança. Diagnóstico de rede e descoberta de dispositivos.

Modbus, Profibus, EtherCAT, Ethernet/IP e malhas 4-20 mA: como escolher e diagnosticar redes industriais. Topologia, terminação, determinismo e dicas de bancada.

KNX, DALI, MQTT, Zigbee e Z-Wave: protocolos para automação predial e residencial. Topologia, diagnóstico de barramento e integração com Home Assistant.

Varistores (MOV), TVS, fusíveis rearmáveis (PTC) e optoacopladores: proteção contra transientes e isolação galvânica. Seleção, derating e diagnóstico de bancada.

Avionica de alta confiabilidade: MIL-STD-1553, ARINC 429, CANaerospace, IMUs de grau navegação e atuadores EMA redundantes. Diagnóstico de barramento e redundância.

Do hobista ao industrial: como escolher e dimensionar drivers de motor de passo. Análise de corrente, microsteps, dissipação e ruído, com visão de engenharia e dicas de bancada.

Sensores de posição rotativa: encoders ópticos, magnéticos, incrementais e absolutos. Protocolos, resolução, fator de multiplicação e malha fechada na prática.

Eletrolíticos, cerâmicos, tântalo e filme: quando usar cada um. Análise de ESR, ripple current, vida útil e derating — com medição de ESR in-circuit na bancada.

Do MOSFET ao IGBT: RDS(on), gate charge, avalanche, ZVS/ZCS e seleção para inversores e drivers de motor. Análise térmica e dicas de bancada.

O controlador PID é o algoritmo de controle mais usado na indústria. Proporcional, integral e derivativo na prática, com métodos de sintonia e aplicações mecatrônicas.

Da manutenção corretiva à preditiva. Diagnóstico de falhas em sistemas mecatrônicos, ferramentas essenciais e estratégias de manutenção na indústria 4.0.

Controladores Lógico Programáveis são o coração da automação industrial. Linguagem Ladder, lógicas de selamento, temporizadores e aplicação prática em detalhe.